相控陣超聲檢測(cè)儀 CTS-PA22B復(fù)合材料相控陣超聲C掃描檢測(cè) 復(fù)合材料相控陣超聲C掃描檢測(cè)-啟航檢測(cè)科技（上海）有限公司 一、平面工件檢測(cè)解決方案 相控陣檢測(cè)儀、配套多種掃查設(shè)備、配套本公司自主研制的相控陣探頭，可解決平面C掃描檢測(cè)的難題，提供四種解決方案供選擇。
方案1：滾輪探頭單軸C成像掃查器SCQgl-1，內(nèi)置有高分辨率的相控陣探頭5L64-0.8；適用于大面積快速C掃描檢測(cè)。
滾輪探頭單軸C成像掃查器SCQgl-1是一款大面積C掃的專用掃查器，用于檢測(cè)復(fù)合材料等行業(yè)的表面光滑的材料，該探頭接觸材料采用與水相似的聲阻抗，耦合效果特佳，聲束覆蓋寬度達(dá)51.2毫米。只需滾動(dòng)探頭，圖像即可呈現(xiàn)，大大提高你的檢測(cè)效率。 方案2：拉線雙軸C成像掃查器SCQlx-1，高分辨率相控陣探頭5L64-0.6；適用于特定區(qū)域的精確C掃描檢測(cè)。 
拉線雙軸C成像掃查器采用兩個(gè)高分辨率的拉線編碼器，儀器軟件設(shè)計(jì)專用的掃查操作模塊，掃查時(shí)將拉線編碼器固定在掃查工件上，可以采用磁吸或真空吸附滿足不同檢測(cè)工件的要求。工作的時(shí)候，將兩個(gè)拉線編碼器的線夾固定于掃查探頭的固定位置上，掃查時(shí)探頭可以在設(shè)定的檢測(cè)范圍內(nèi)任意方向平移移動(dòng)，掃查工作就像涂鴉或刷油漆一樣便捷，除了時(shí)候平面工件之外，也適合曲率不大的曲面工件。 方案3：手動(dòng)簡(jiǎn)易單軸C成像掃查器SCQpa-2、高分辨率相控陣探頭5L64-0.8；適用于大面積快速C掃描檢測(cè)。 
SCQpa-2相控陣掃查器是一款簡(jiǎn)易的掃查器，在探頭楔塊上掛裝一個(gè)高精度的防水防塵編碼器，根據(jù)使用場(chǎng)合的不同設(shè)計(jì)不同的楔塊，可滿足各種應(yīng)用場(chǎng)合，可對(duì)大面積復(fù)合材料全面積進(jìn)行C成像檢測(cè)，也可對(duì)一些狹窄空間的復(fù)合材料進(jìn)行C掃成像檢測(cè)，該掃查設(shè)備簡(jiǎn)易、小巧、使用靈活方便，通過(guò)定制各種類型的楔塊，可滿足不同的應(yīng)用場(chǎng)合。 方案4：手動(dòng)雙軸C成像掃查器SCQcscan-1、高分辨率相控陣探頭5L64-0.6；適用于特定區(qū)域的精確C掃描檢測(cè)。 
手動(dòng)雙軸C成像掃查器SCQcscan－1掃查器可以實(shí)現(xiàn)帶有位置信息反饋的XY兩軸自由滑移運(yùn)動(dòng)，配合不同探頭適用于用于平板類金屬、復(fù)合材料接觸式大面積C成像精確定位探傷。XY兩軸分辨率可選，為0.1mm/step，根據(jù)需要可以選擇磁性或者真空吸附的底座以適應(yīng)不同材料需要。 二、圓角工件檢測(cè)解決方案 采用本公司的CTS-2108PA相控陣檢測(cè)儀、配套公司曲面線陣探頭及專用楔塊，可解決圓角C掃描檢測(cè)的難題。 
探頭參數(shù)：探頭陣元排列為圓弧狀，圓弧曲率半徑為R，陣元間距為P，陣元數(shù)目為N；工件參數(shù)：工件曲面為圓弧狀，圓弧曲率半徑為r。假設(shè)探頭覆蓋角度范圍為90°，則探頭參數(shù)需滿足要求：2πR / 4 = P *（N-1），即P = πR / 2（N-1）； 三、應(yīng)用案例 復(fù)合材料葉片檢測(cè):  專用復(fù)合材料葉片檢測(cè)探頭，能夠?qū)崿F(xiàn)狹窄空間的檢測(cè)需求 蜂窩芯復(fù)合材料檢測(cè):  蜂窩檢測(cè)，能夠快速判別蜂窩脫粘情況，無(wú)脫粘的區(qū)域每個(gè)蜂窩孔清晰可見(jiàn) 特薄復(fù)合材料工件檢測(cè)（1mm）:  無(wú)缺陷檢測(cè)圖像（1mm）  有缺陷顯示檢測(cè)圖像（缺陷位于0.5mm）  采用10MHz的高頻率窄脈沖探頭，能夠?qū)崿F(xiàn)只有零點(diǎn)幾毫米厚的鋁蜂窩復(fù)合材 3D全聚焦檢測(cè)技術(shù)解決方案:
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